賽默飛 iCAP 7000 Plus ICP-­­OES光譜不僅性能*、分析效率高，而且使用簡(jiǎn)便，在遵循規(guī)范及標(biāo)準(zhǔn)的同時(shí)持續(xù)提供可靠的數(shù)據(jù)。

更新時(shí)間：2023-01-29

Agilent 5100 ICP-OES等離子體發(fā)射光譜儀同步垂直雙向觀測(cè) （SVDV） ICP-OES 是ICP-OES（也稱作 ICP-AES）分析法。憑借*的智能光譜組合 （DSC） 技術(shù)，該系統(tǒng)在單次測(cè)量中可同時(shí)實(shí)現(xiàn)等離子體的水平和垂直觀測(cè)。

更新時(shí)間：2023-01-29

Agilent 4200微波等離子體原子發(fā)射光譜儀低成本、安全性更好的 Agilent 4200 MP-AES 具有更高的檢測(cè)靈敏度、檢測(cè)限低至亞 ppb 水平，速度超過火焰原子吸收，并且無需使用易燃性氣體。可對(duì)范圍更廣的樣品進(jìn)行無人值守分析，而且使用革命性的空氣運(yùn)行技術(shù)能實(shí)現(xiàn)低的使用維護(hù)成本。

更新時(shí)間：2023-01-29

Agilent 5110 ICP-OES 等離子體發(fā)射光譜儀同步垂直雙向觀測(cè) （SVDV） ICP-OES 具有*的智能光譜組合 （DSC） 技術(shù)，可以實(shí)現(xiàn)同步的水平和垂直測(cè)量。配合使用垂直炬管與速度更快且無需氣體吹掃的 VistaChip II CCD 檢測(cè)器，5100 ICP-OES（也稱作 ICP-AES）能夠以一半的氬氣用量來運(yùn)行具挑戰(zhàn)的樣品，速度可提升 55%，并且不影響任何分析性能。

更新時(shí)間：2023-01-29